BESII TOF数据的离线刻度
文献类型:期刊论文
作者 | 荣刚![]() ![]() ![]() ![]() |
刊名 | 高能物理与核物理
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出版日期 | 2001 |
期号 | 2页码:154-159 |
关键词 | 北京谱仪 飞行时间计数器 数据离线刻度 时间分辨本领 粒子识别 |
其他题名 | DATA OFFLINE CALIBRATION FOR THE BESII TOF SYSTEM |
通讯作者 | 荣刚 |
中文摘要 | 简要地讨论了北京谱仪-Ⅱ(BES-Ⅱ)飞行时间计数器(TOF)数据的离 线刻度.利用J/φ能区的电子对事例仔细完成的离线刻度与校正结果表明,新的 TOF时间分辨达到σTOF=180ps.由此大大增强了对带电粒子的识别能力.对 于3σ的π/K分离其动量可以达到0.93GeV/c. |
公开日期 | 2016-02-26 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219162] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 荣刚,赵家伟,刘琦,等. BESII TOF数据的离线刻度[J]. 高能物理与核物理,2001(2):154-159. |
APA | 荣刚.,赵家伟.,刘琦.,薛生田.,陈光培.,...&赵海文.(2001).BESII TOF数据的离线刻度.高能物理与核物理(2),154-159. |
MLA | 荣刚,et al."BESII TOF数据的离线刻度".高能物理与核物理 .2(2001):154-159. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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