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BESII 主漂移室径迹判选系统

文献类型:期刊论文

作者丁慧良; 顾建辉; 郁忠强; 过雅南; 赵棣新; 李卫东; 马恩成; 张月元; 谈益平; 杜玉远
刊名核电子学与探测技术
出版日期1999
期号1页码:5
关键词北京谱仪 事例判选与触发 主漂移室 顶点探测器 飞行时间计数器 通用逻辑阵列
其他题名Nuclear Radiation Monitor Based on Single-Chip Microcomputer
通讯作者丁慧良
中文摘要本文介绍升级改进后的北京谱仪(BESⅡ)主漂移室径迹判选系统,叙述了该系统的性能和实现。电路中采用了可编程器件FPGA和GAL,使判选系统更具灵活性和可靠性。
公开日期2016-02-26
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219163]  
专题高能物理研究所_实验物理中心
高能物理研究所_计算中心
推荐引用方式
GB/T 7714
丁慧良,顾建辉,郁忠强,等. BESII 主漂移室径迹判选系统[J]. 核电子学与探测技术,1999(1):5.
APA 丁慧良.,顾建辉.,郁忠强.,过雅南.,赵棣新.,...&姚卫良.(1999).BESII 主漂移室径迹判选系统.核电子学与探测技术(1),5.
MLA 丁慧良,et al."BESII 主漂移室径迹判选系统".核电子学与探测技术 .1(1999):5.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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