BESIII读出系统测试与研发中的前端电子学模拟
文献类型：期刊论文
| 作者 | 雷广坤; 王靓; 朱海涛 ; 初元萍; 朱科军; 赵京伟
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| 刊名 | 核电子学与探测技术
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| 出版日期 | 2007 |
| 期号 | 2页码:250-253 |
| 关键词 | PowerPC VME BESⅢ 数据获取 读出系统 系统模拟 |
| 其他题名 | The simulation of the front end electronics system in BESⅢ readout system testing |
| 通讯作者 | 雷广坤 |
| 中文摘要 | 介绍了BESⅢ读出系统测试与研发中利用MVME2431单板计算机对前端电子学的模拟实现。叙述了BESⅢ前端电子学系统的功能及模拟其系统的目的;着重介绍模拟所采用的技术路线和实现办法,并对电子学模拟的整体性能进行了客观评估。 |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219194]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 高能物理研究所_核技术应用研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 雷广坤,王靓,朱海涛,等. BESIII读出系统测试与研发中的前端电子学模拟[J]. 核电子学与探测技术,2007(2):250-253. |
| APA | 雷广坤,王靓,朱海涛,初元萍,朱科军,&赵京伟.(2007).BESIII读出系统测试与研发中的前端电子学模拟.核电子学与探测技术(2),250-253. |
| MLA | 雷广坤,et al."BESIII读出系统测试与研发中的前端电子学模拟".核电子学与探测技术 .2(2007):250-253. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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