BESIII端盖TOF时间分辨的束流测试
文献类型：期刊论文
| 作者 | 安少辉; 吴冲; 李昕; 陈宏芳; 衡月昆 ; 孙志嘉; 王贻芳; 李澄
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| 刊名 | 高能物理与核物理
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| 出版日期 | 2005 |
| 期号 | 8页码:775-780 |
| 关键词 | BESⅢ 飞行时间谱仪(TOF) 本征时间分辨 束流测试 |
| 其他题名 | Beam Test of the Time Resolution of the BESIII Endcap TOF |
| 中文摘要 | 使用800MeV的电子束对BESⅢ端盖飞行时间探测器(TOF)模块的性能进行测试.研究了塑料闪烁体的包装材料、光电倍增管(PMT)的工作电压、电子束入射位置对单个TOF模块的本征时间分辨的影响,并给出了测量时间与信号幅度和粒子击中位置的修正方法.实验结果显示使用Tyvek纸包装,闪烁体在安装PMT的一端有45°斜面,电子击中在TOF模块不同位置其本征时间分辨在70—90ps范围内. |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219195]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 安少辉,吴冲,李昕,等. BESIII端盖TOF时间分辨的束流测试[J]. 高能物理与核物理,2005(8):775-780. |
| APA | 安少辉.,吴冲.,李昕.,陈宏芳.,衡月昆.,...&李澄.(2005).BESIII端盖TOF时间分辨的束流测试.高能物理与核物理(8),775-780. |
| MLA | 安少辉,et al."BESIII端盖TOF时间分辨的束流测试".高能物理与核物理 .8(2005):775-780. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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