BESIII飞行时间探测器电子学中的光电倍增管测试
文献类型：期刊论文
| 作者 | 吴金杰; 衡月昆 ; 刘树彬; 郭建华; 封常青; 安琪; 孙志嘉; 赵玉达
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| 刊名 | 核技术
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| 出版日期 | 2008 |
| 期号 | 1页码:5--9 |
| 关键词 | 北京谱仪 飞行时间探测器 电子学 时间性能 幅度性能 |
| 其他题名 | PERFORMANCE TEST OF BESIII ELECTRONICS BY PMT SIGNAL |
| 中文摘要 | 讨论了北京谱仪(BESⅢ)飞行时间探测器(TOF)前端电子学的物理需求。因光电倍增管信号为前端电子学实际使用,而以光电倍增管信号作为信号源测试电子学性能是一种方便易行的方法,所以本文采用光电倍增管信号作为信号源测试电子学的性能。测试结果表明现行设计的电子学性能已达到BESⅢ飞行时间探测器对电子学的预期目标。 |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219200]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴金杰,衡月昆,刘树彬,等. BESIII飞行时间探测器电子学中的光电倍增管测试[J]. 核技术,2008(1):5--9. |
| APA | 吴金杰.,衡月昆.,刘树彬.,郭建华.,封常青.,...&赵玉达.(2008).BESIII飞行时间探测器电子学中的光电倍增管测试.核技术(1),5--9. |
| MLA | 吴金杰,et al."BESIII飞行时间探测器电子学中的光电倍增管测试".核技术 .1(2008):5--9. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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