BESIII漂移室性能研究以及数据质量监测
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张艳硕; 伍灵慧 ; 董燎原; 顾运厅
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| 刊名 | 核电子学与探测技术
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| 出版日期 | 2013 |
| 期号 | 2页码:234-239 |
| 关键词 | 北京谱仪BESⅢ漂移室 击中效率 噪声率 高压丢失 |
| 中文摘要 | 研究了BESⅢ漂移室(MDC)时间测量道的性能,包括空间分辨、动量分辨、击中效率、噪声率和Bhabha事例重建效率等。并用2011年的Bhabha事例样本对MDC性能作了run by run监测,研究了引起数据质量变化的各种因素。另外还研究了工作高压丢失(trip)对MDC性能的影响,此外,为了提高数据质量开发了相应软件包以去掉受高压丢失影响的事例。 |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219222]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张艳硕,伍灵慧,董燎原,等. BESIII漂移室性能研究以及数据质量监测[J]. 核电子学与探测技术,2013(2):234-239. |
| APA | 张艳硕,伍灵慧,董燎原,&顾运厅.(2013).BESIII漂移室性能研究以及数据质量监测.核电子学与探测技术(2),234-239. |
| MLA | 张艳硕,et al."BESIII漂移室性能研究以及数据质量监测".核电子学与探测技术 .2(2013):234-239. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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