IT化测控制造业的技术基础与芯片制造业
文献类型：期刊论文
| 作者 | 沈经 |
| 刊名 | 仪器仪表标准化与计量
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| 出版日期 | 2001 |
| 期号 | 2页码:16-19 |
| 关键词 | 芯片制造业 电讯盈科 杨元 北大方正 现代化大城市 传志 台湾当局 张忠谋 世界著名企业 电子工业部 |
| 通讯作者 | 沈经 |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219389]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 沈经. IT化测控制造业的技术基础与芯片制造业[J]. 仪器仪表标准化与计量,2001(2):16-19. |
| APA | 沈经.(2001).IT化测控制造业的技术基础与芯片制造业.仪器仪表标准化与计量(2),16-19. |
| MLA | 沈经."IT化测控制造业的技术基础与芯片制造业".仪器仪表标准化与计量 .2(2001):16-19. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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