NbTi-Cu二组元、NbTi-Cu-CuNi三组元超导磁体交流损耗实验比较
文献类型:期刊论文
作者 | 刘在海; 武家扬; 宋玉霞 |
刊名 | 低温物理
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出版日期 | 1981 |
期号 | 4页码:351-355 |
关键词 | 复合线 磁场峰值 NbTi-Cu-CuNi 励磁 磁滞 扭距 芯径 临界电流 定性的 总效应 |
通讯作者 | 刘在海 |
中文摘要 | 我们用电子积分技术测量磁滞迴线的方法,分别测试了NbTi-Cu二组元和NbTi-Cu-CuNi三组元复合线磁体的交流损耗.本文报告了实验结果并把这些结果作了定性的比较.通过比较可以看出:在我们实验范围内,(1)NbTi-Cu二组元复合线磁体的损耗正比于磁体的磁场峰值和励磁速度.(2)NbTi-Cu-CuNi三组元复合线磁体的损耗正比于磁场峰值,但随励磁速度增加而下降. |
公开日期 | 2016-02-26 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219452] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘在海,武家扬,宋玉霞. NbTi-Cu二组元、NbTi-Cu-CuNi三组元超导磁体交流损耗实验比较[J]. 低温物理,1981(4):351-355. |
APA | 刘在海,武家扬,&宋玉霞.(1981).NbTi-Cu二组元、NbTi-Cu-CuNi三组元超导磁体交流损耗实验比较.低温物理(4),351-355. |
MLA | 刘在海,et al."NbTi-Cu二组元、NbTi-Cu-CuNi三组元超导磁体交流损耗实验比较".低温物理 .4(1981):351-355. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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