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α、γ)分辨在测量CsI(Tl)晶体固有放射性本底中的应用

文献类型:期刊论文

作者刘延; 李金; 王子敬; 夏小米; 赖元芬
刊名核技术
出版日期2001
期号6页码:497-502
关键词脉冲形状甄别 电荷比较法 CsI(Tl)晶体固有放射性 中微子测量 γ)分辨
其他题名An application of (A,C) discrimination in the measurement of intrinsic radicacture background of CsI( Tl) crystal
通讯作者刘延
中文摘要描述了通过CAMAC -微机进行数据采集 ,用电荷比较法测量CsI(Tl)晶体的 (α、γ)分辨性能的方法 ;同时利用此方法测量了CsI(Tl)晶体固有放射性含量 ,估算了晶体内2 38U和2 32 Th的含量。
公开日期2016-02-26
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219580]  
专题高能物理研究所_实验物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
刘延,李金,王子敬,等. α、γ)分辨在测量CsI(Tl)晶体固有放射性本底中的应用[J]. 核技术,2001(6):497-502.
APA 刘延,李金,王子敬,夏小米,&赖元芬.(2001).α、γ)分辨在测量CsI(Tl)晶体固有放射性本底中的应用.核技术(6),497-502.
MLA 刘延,et al."α、γ)分辨在测量CsI(Tl)晶体固有放射性本底中的应用".核技术 .6(2001):497-502.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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