τ轻子Michel参数测量中的电子识别方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 钱诚德; 冯胜; 童国梁; 吴义根 |
| 刊名 | 高能物理与核物理
 |
| 出版日期 | 1998 |
| 期号 | 5页码:388-393 |
| 关键词 | Michel参数 τ轻子衰变 电子识别 两维散点图 |
| 其他题名 | ELECTRON IDENTIFICATION IN THE MEASUREMENT OF MICHEL PARAMETER IN τ LEPTON DECAY |
| 中文摘要 | 北京谱仪（ＢＥＳ）合作组通过衰变的电子能谱测定Ｍｉｃｈｅｌ参数，本文利用ＢＥＳ在质心系能量４，０３ＧｅＶ处获取的ｅ＋ｅ－对撞数据，通过ＢＥＳ给出的带电粒子ｄＥ／ｄｘ、β、Ｅ／ｐ测定值及其适当组合，实现了电子的有效识别． |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219590]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 钱诚德,冯胜,童国梁,等. τ轻子Michel参数测量中的电子识别方法[J]. 高能物理与核物理,1998(5):388-393. |
| APA | 钱诚德,冯胜,童国梁,&吴义根.(1998).τ轻子Michel参数测量中的电子识别方法.高能物理与核物理(5),388-393. |
| MLA | 钱诚德,et al."τ轻子Michel参数测量中的电子识别方法".高能物理与核物理 .5(1998):388-393. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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