北京谱仪Ⅱ顶点探测器的离线刻度
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陈光培; 袁野 ; 毛泽普; 刘靖; 荣刚; 邱进发; 谢跃红; 孙良峰; 李佩琴; 赵海文
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| 刊名 | 高能物理与核物理
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| 出版日期 | 2000 |
| 期号 | 12页码:1165-1172 |
| 关键词 | 顶点探测器 离线刻度 空间分辨率 |
| 其他题名 | OFFLINE CALIBRATION OF BESII VERTEX CHAMBER |
| 通讯作者 | 陈光培 |
| 中文摘要 | 介绍了在ＶＣＪＵＬＩ基础上对北京谱仪Ⅱ顶点探测器进行离线刻度的方 法，包括整体Ｔ０的获得、单丝零时间ｔ０的扣除、丝位的修正、顶点探测器相对 于主漂移室位置的校正以及漂移时间一漂移距离关系的修正等．并由此给出了 北京谱仪Ⅱ顶点探测器的主要参数：空间分辨好于１００μｍ． |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219633]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈光培,袁野,毛泽普,等. 北京谱仪Ⅱ顶点探测器的离线刻度[J]. 高能物理与核物理,2000(12):1165-1172. |
| APA | 陈光培.,袁野.,毛泽普.,刘靖.,荣刚.,...&严武光.(2000).北京谱仪Ⅱ顶点探测器的离线刻度.高能物理与核物理(12),1165-1172. |
| MLA | 陈光培,et al."北京谱仪Ⅱ顶点探测器的离线刻度".高能物理与核物理 .12(2000):1165-1172. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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