北京谱仪-Ⅲ上D~0介子半轻子衰变D~0→K~-e~+v_eπ~-e~+v_e的蒙特卡罗研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李蕾 ; 荣刚; 马海龙
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| 刊名 | 核电子学与探测技术
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| 出版日期 | 2010 |
| 期号 | 9页码:1230-1235 |
| 关键词 | 半轻子衰变 测量精度 衰变分支比 形状因子 |
| 其他题名 | Monte Carlo Studies of the Semileptonic Decays for D0y K- e+ veP- e+ ve at BESIII |
| 通讯作者 | 李蕾(实） |
| 中文摘要 | 通过分析e+e-→Ψ(3770)→D,D衰变到所有可能末态的蒙特卡罗样本,模拟研究了实验测量D0介子半轻子衰变D0→K-e+ve,π-e+ve的绝对分支比。蒙特卡罗事例经过北京谱仪-Ⅲ(BES-Ⅲ)探测器进行了完整的模拟。基于完整的蒙特卡罗模拟样本及物理分析,研究了在BES-Ⅲ上测量D0→K-e+ve、π-e+ve衰变分支比所能够达到的精度。研究表明,如果利用BES-Ⅲ能够采集5(20)fb-1的Ψ(3770)数据,D0→K-e+ve,π-e+ve衰变分支比的测量精度可达到2.2(2.0)%及3.6(2.5)%。根据这两个过程分支比测量的精度,我们给出了实验测量D0介子半轻子衰变D0→K(... |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219642]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李蕾,荣刚,马海龙. 北京谱仪-Ⅲ上D~0介子半轻子衰变D~0→K~-e~+v_eπ~-e~+v_e的蒙特卡罗研究[J]. 核电子学与探测技术,2010(9):1230-1235. |
| APA | 李蕾,荣刚,&马海龙.(2010).北京谱仪-Ⅲ上D~0介子半轻子衰变D~0→K~-e~+v_eπ~-e~+v_e的蒙特卡罗研究.核电子学与探测技术(9),1230-1235. |
| MLA | 李蕾,et al."北京谱仪-Ⅲ上D~0介子半轻子衰变D~0→K~-e~+v_eπ~-e~+v_e的蒙特卡罗研究".核电子学与探测技术 .9(2010):1230-1235. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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