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北京谱仪μ子计数器离线数据刻度研究

文献类型:期刊论文

作者黄亮; 毛泽普; 赵维仁; 孙良峰; 张长春; 马秋梅; 邱进发; 黄秀萍; 袁野
刊名高能物理与核物理
出版日期2003
期号11页码:949-953
关键词北京谱仪 μ子计数器 离线刻度 电荷分配法
其他题名OFFLINE CALIBRATION OF BESII MUON DETECTOR
通讯作者黄亮
中文摘要介绍了北京谱仪(BES)μ子计数器的结构,分析了μ子计数器z向位置分辨变坏的主要因素,通过研究μ子计数器离线数据刻度基本原理和刻度方法,采用新的刻度方法解决了μ子计数器z向位置分辨变坏的问题,使μ子计数器z向位置分辨提高了20%。
公开日期2016-02-26
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219659]  
专题高能物理研究所_实验物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
黄亮,毛泽普,赵维仁,等. 北京谱仪μ子计数器离线数据刻度研究[J]. 高能物理与核物理,2003(11):949-953.
APA 黄亮.,毛泽普.,赵维仁.,孙良峰.,张长春.,...&袁野.(2003).北京谱仪μ子计数器离线数据刻度研究.高能物理与核物理(11),949-953.
MLA 黄亮,et al."北京谱仪μ子计数器离线数据刻度研究".高能物理与核物理 .11(2003):949-953.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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