北京谱仪电子学系统性能的标定
文献类型：期刊论文
| 作者 | 唐素秋; 于传松; 赵京伟 ; 聂振东; 褚以人; 石力
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| 刊名 | 核电子学与探测技术
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| 出版日期 | 1991 |
| 期号 | 4页码:208-213 |
| 关键词 | 北京谱仪 电子学 计算机 |
| 其他题名 | THE CALIBRATION OF PERFORMANCES OF BES ELECTRONICS |
| 通讯作者 | 唐素秋 |
| 中文摘要 | 北京谱仪是北京正负电子对撞机的物理实验装置,用于探测正负电子对撞瞬间产生的终态粒子。北京谱仪电子学系统是该谱仪的重要部分,担负探测信号的放大、成形及变换。为了确保和验证电子学系统的可靠性,建立了计算机校准系统。本文主要介绍校准系统的硬件配置、功能及其程序构成。 |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219675]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 唐素秋,于传松,赵京伟,等. 北京谱仪电子学系统性能的标定[J]. 核电子学与探测技术,1991(4):208-213. |
| APA | 唐素秋,于传松,赵京伟,聂振东,褚以人,&石力.(1991).北京谱仪电子学系统性能的标定.核电子学与探测技术(4),208-213. |
| MLA | 唐素秋,et al."北京谱仪电子学系统性能的标定".核电子学与探测技术 .4(1991):208-213. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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