国产高Z闪烁晶体辐照损伤研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陈宇 ; 顾以藩
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| 刊名 | 核电子学与探测技术
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| 出版日期 | 1993 |
| 期号 | 1页码:12--18 |
| 关键词 | 闪烁晶体 辐照损伤 噪声 自然恢复 |
| 其他题名 | STUDY ON RADIATION DAMAGE OF DOMESTIC HIGH-Z SCINTILLATION CRYSTALS |
| 通讯作者 | 陈宇 |
| 中文摘要 | 建立了两套测量准确度分别达到0.5％及1％的测量系统。考察了国产BGO、CsI(Tl)、CsI(Na)和BaF_2晶体在5kGy吸收剂量下的辐照损伤效应。测量显示出两种不同掺杂的CsI晶体显著不同的辐照损伤及其自然恢复性能。发现辐照后BaF_2晶体存在逐渐衰减的强噪声,并且经天然光或日光灯光再照射后强噪声重新出现的新奇现象。 |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219931]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 高能物理研究所_加速器中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈宇,顾以藩. 国产高Z闪烁晶体辐照损伤研究[J]. 核电子学与探测技术,1993(1):12--18. |
| APA | 陈宇,&顾以藩.(1993).国产高Z闪烁晶体辐照损伤研究.核电子学与探测技术(1),12--18. |
| MLA | 陈宇,et al."国产高Z闪烁晶体辐照损伤研究".核电子学与探测技术 .1(1993):12--18. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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