基于FPGA中FIFO误码率软硬件测试方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王科 ; 刘振安; 赵棣新; 过雅南; 徐昊; 阴泽杰
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| 刊名 | 电子测量技术
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| 出版日期 | 2004 |
| 期号 | 2页码:5--6 |
| 关键词 | 误码率 先进先出寄存器 伪随机码 线性反馈移位寄存器 |
| 其他题名 | BER TESTING BY SOFTWARE AND HARDWARE AND HARDWARE BASED ON FIFOS IN FPGA |
| 中文摘要 | 文中介绍用 FPGA中 FIFO的误码率软件和硬件测试方法,简介数据比较程序;说明硬件测试中伪随机码序列特点和生成原理,并对比较时如何使数据对应做出讨论。最后列出测试结果,比较这两种方法的优缺点。 |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219969]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王科,刘振安,赵棣新,等. 基于FPGA中FIFO误码率软硬件测试方法[J]. 电子测量技术,2004(2):5--6. |
| APA | 王科,刘振安,赵棣新,过雅南,徐昊,&阴泽杰.(2004).基于FPGA中FIFO误码率软硬件测试方法.电子测量技术(2),5--6. |
| MLA | 王科,et al."基于FPGA中FIFO误码率软硬件测试方法".电子测量技术 .2(2004):5--6. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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