小单元漂移室模拟老化实验中老化率与放射源强度的相关
文献类型：期刊论文
| 作者 | 沈洪涛; 陈昌; 陈元柏 ; 朱启明; 金艳; 刘荣光; 马骁妍; 王岚; 阮向东; 王祥高
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| 刊名 | 核电子学与探测技术
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| 出版日期 | 2007 |
| 期号 | 2页码:359-362+375 |
| 关键词 | 小单元漂移室 放射源强度 老化率 阳极丝电流 光电峰位 |
| 其他题名 | Dependence of ageing rate on the radiation intensity in accelerated ageing test of the small cell drif t chamber |
| 通讯作者 | 沈洪涛 |
| 中文摘要 | 在小单元漂移室多次模拟老化实验中,观察到测量所得的老化率与辐照放射源强度的相关,讨论了产生此种相关的可能原因。 |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/220271]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 沈洪涛,陈昌,陈元柏,等. 小单元漂移室模拟老化实验中老化率与放射源强度的相关[J]. 核电子学与探测技术,2007(2):359-362+375. |
| APA | 沈洪涛.,陈昌.,陈元柏.,朱启明.,金艳.,...&徐美杭.(2007).小单元漂移室模拟老化实验中老化率与放射源强度的相关.核电子学与探测技术(2),359-362+375. |
| MLA | 沈洪涛,et al."小单元漂移室模拟老化实验中老化率与放射源强度的相关".核电子学与探测技术 .2(2007):359-362+375. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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