用于流光室性能试验的控制电路
文献类型：期刊论文
| 作者 | 徐雨林; 陈元柏 ; 王殿荣
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| 刊名 | 核电子学与探测技术
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| 出版日期 | 1982 |
| 期号 | 5页码:45-46 |
| 关键词 | 流光室 控制电路 性能试验 电路工作 成形电路 带电粒子 双稳态电路 电耦合 高翠山 信号触发 |
| 其他题名 | A LOGICAL CONTROL CIRCUIT FOR THE [ERFORMANCE TEST OF THE STREAMER CHAMBER |
| 通讯作者 | 徐雨林 |
| 中文摘要 | 我们为流光室设计了一套控制电路,经几年运行表明,该电路工作正常、稳定可靠。 |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/220372]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐雨林,陈元柏,王殿荣. 用于流光室性能试验的控制电路[J]. 核电子学与探测技术,1982(5):45-46. |
| APA | 徐雨林,陈元柏,&王殿荣.(1982).用于流光室性能试验的控制电路.核电子学与探测技术(5),45-46. |
| MLA | 徐雨林,et al."用于流光室性能试验的控制电路".核电子学与探测技术 .5(1982):45-46. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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