自淬灭流光的可能成因
文献类型:期刊论文
作者 | 张良生 |
刊名 | 科学通报
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出版日期 | 1985 |
期号 | 15页码:1136-1138 |
关键词 | 淬灭 气体放电 计数率 击穿现象 极丝 选通 可能成因 中性分子 复合过程 次级电子 |
通讯作者 | 张良生 |
中文摘要 | 为定量地解释选通多步雪崩室”(Gated Multistep Avalanche Chamber,GMAC)的高计数率击穿现象,作者在文献[2]中假设了一种气体放电机制,据此机制所作的计算与实验结果令人满意地一致。上述机制加以推广有可能解释自淬灭流光(self-Quenching Streamer,SQS)的成因。下面介绍上述机制的推广: |
公开日期 | 2016-02-26 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/220458] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张良生. 自淬灭流光的可能成因[J]. 科学通报,1985(15):1136-1138. |
APA | 张良生.(1985).自淬灭流光的可能成因.科学通报(15),1136-1138. |
MLA | 张良生."自淬灭流光的可能成因".科学通报 .15(1985):1136-1138. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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