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能量145keVγ射线的小角度非相干散射测量

文献类型:期刊论文

作者方渡飞; 杨保忠; 唐孝威
刊名科学通报
出版日期1989
期号6页码:422-424
关键词γ射线 非相干散射 相干散射 Ge(Li)谱仪
中文摘要γ射线与原子的非相干散射是光和物质相互作用的基本过程之一。实验上测量非相干散射微分截面、相干散射与非相干散射微分截面比值R,以及非相干散射函数S,可用以检验原子结构的不同理论模型。 有很多测量给出γ射线非相干散射截面。但早期测量采用NaI(T1)晶体作探测器。由于NaI(T1)的能量分辨率差,对小角度散射,很难在散射谱中把相干散射峰和非相干散射
公开日期2016-02-26
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/215010]  
专题高能物理研究所_院士
高能物理研究所_粒子天体物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
方渡飞,杨保忠,唐孝威. 能量145keVγ射线的小角度非相干散射测量[J]. 科学通报,1989(6):422-424.
APA 方渡飞,杨保忠,&唐孝威.(1989).能量145keVγ射线的小角度非相干散射测量.科学通报(6),422-424.
MLA 方渡飞,et al."能量145keVγ射线的小角度非相干散射测量".科学通报 .6(1989):422-424.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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