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北京同步辐射软X光反射率计装置及其物理工作

文献类型:期刊论文

作者崔明启; 王俊; 缪建伟; 黄宇营; 唐鄂生; 冼鼎昌; 邵景鸿; 薛松; 徐正良; 孙剑辉
刊名高能物理与核物理
出版日期1995
期号1页码:82-87
关键词同步辐射 反射率计 软X光多层膜 反射率.
其他题名NEW SOFT X-RAY REFLECTOMETER ON BEIJING SYNCHROTRON RADIATION FACILITY AND SOME BASIC RESULTS OF PHYSICS WORK
通讯作者崔明启
中文摘要介绍了安装在北京同步辐射装置上专门用于软X光多层膜研究的反射率计系统,给出了在该装置上测量得到的Al滤光片的软X光透射谱和Nb/Si多层膜的高角反射谱,用磁控溅射方法自制的Nb/Si多层膜样品在17.59um附近得到的反射率为32%.
公开日期2016-02-26
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/215206]  
专题高能物理研究所_院士
推荐引用方式
GB/T 7714
崔明启,王俊,缪建伟,等. 北京同步辐射软X光反射率计装置及其物理工作[J]. 高能物理与核物理,1995(1):82-87.
APA 崔明启.,王俊.,缪建伟.,黄宇营.,唐鄂生.,...&孙剑辉.(1995).北京同步辐射软X光反射率计装置及其物理工作.高能物理与核物理(1),82-87.
MLA 崔明启,et al."北京同步辐射软X光反射率计装置及其物理工作".高能物理与核物理 .1(1995):82-87.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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