北京同步辐射软X光反射率计装置及其物理工作
文献类型:期刊论文
作者 | 崔明启![]() ![]() |
刊名 | 高能物理与核物理
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出版日期 | 1995 |
期号 | 1页码:82-87 |
关键词 | 同步辐射 反射率计 软X光多层膜 反射率. |
其他题名 | NEW SOFT X-RAY REFLECTOMETER ON BEIJING SYNCHROTRON RADIATION FACILITY AND SOME BASIC RESULTS OF PHYSICS WORK |
通讯作者 | 崔明启 |
中文摘要 | 介绍了安装在北京同步辐射装置上专门用于软X光多层膜研究的反射率计系统,给出了在该装置上测量得到的Al滤光片的软X光透射谱和Nb/Si多层膜的高角反射谱,用磁控溅射方法自制的Nb/Si多层膜样品在17.59um附近得到的反射率为32%. |
公开日期 | 2016-02-26 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/215206] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_院士 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 崔明启,王俊,缪建伟,等. 北京同步辐射软X光反射率计装置及其物理工作[J]. 高能物理与核物理,1995(1):82-87. |
APA | 崔明启.,王俊.,缪建伟.,黄宇营.,唐鄂生.,...&孙剑辉.(1995).北京同步辐射软X光反射率计装置及其物理工作.高能物理与核物理(1),82-87. |
MLA | 崔明启,et al."北京同步辐射软X光反射率计装置及其物理工作".高能物理与核物理 .1(1995):82-87. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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