全反射X射线荧光分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 赵利敏; 冼鼎昌
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| 刊名 | 物理
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| 出版日期 | 1997 |
| 期号 | 11页码:661-665 |
| 关键词 | 全反射X射线荧光 检测限（MDL） |
| 通讯作者 | 赵利敏 |
| 中文摘要 | 介绍了全反射Ｘ射线荧光分析的基本理论、实验装置和定量分析方法，简述了其发展史及其在医学、法学、环境科学、地矿科学、材料科学等领域的应用，评述了今后Ｘ射线荧光发展的方向． |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/215294]  |
| 专题 | 高能物理研究所_院士 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵利敏,冼鼎昌. 全反射X射线荧光分析[J]. 物理,1997(11):661-665. |
| APA | 赵利敏,&冼鼎昌.(1997).全反射X射线荧光分析.物理(11),661-665. |
| MLA | 赵利敏,et al."全反射X射线荧光分析".物理 .11(1997):661-665. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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