同步辐射X射线掠入射衍射实验技术及应用
文献类型：期刊论文
| 作者 | 姜晓明 ; 贾全杰; 郑文莉; 刘鹏（多）; 冼鼎昌; 蒋最敏; 王迅
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| 刊名 | 高能物理与核物理
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| 出版日期 | 2000 |
| 期号 | 12页码:1185-1190 |
| 关键词 | 掠入射衍射 表层结构 量子点 微弱信号 |
| 其他题名 | DEVELOPMENT OF SYNCHROTRON RADIATION X-RAY GRAZING INCIDENT DIFFRACTION METHOD |
| 通讯作者 | 姜晓明 |
| 中文摘要 | 利用北京同步辐射装置漫散射实验站的五圆衍射仪，建立了掠入射Ｘ射线衍射实验方法．对Ｓｉ表面生长的Ｇｅ／Ｓｉ量子点及其在Ｓｉ表层产生的应变进行了成功测量，表明此方法可以有效地提取表面层的微弱信号．实验结果表明，Ｇｅ／Ｓｉ量子点的形成除了在Ｓｉ衬底表层形成了晶格具有横向膨胀应变的区域之外，还在Ｓｉ衬底中形成了具有横向压缩应变的区域． |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/215390]  |
| 专题 | 高能物理研究所_院士 中国科学院高能物理研究所_人力资源处 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 姜晓明,贾全杰,郑文莉,等. 同步辐射X射线掠入射衍射实验技术及应用[J]. 高能物理与核物理,2000(12):1185-1190. |
| APA | 姜晓明.,贾全杰.,郑文莉.,刘鹏.,冼鼎昌.,...&王迅.(2000).同步辐射X射线掠入射衍射实验技术及应用.高能物理与核物理(12),1185-1190. |
| MLA | 姜晓明,et al."同步辐射X射线掠入射衍射实验技术及应用".高能物理与核物理 .12(2000):1185-1190. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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