正电子在铝中湮没γ射线能量的精密测量
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王蕴玉; 张天保; 唐孝威
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| 刊名 | 物理学报
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| 出版日期 | 1982 |
| 期号 | 7页码:945-947 |
| 关键词 | 静止质量 精密测量 湮没辐射 γ射线 测量正 相对位置 重复测定 峰位漂移 角关联 高纯铝 |
| 其他题名 | PRECISE MEASUREMENT OF THE POSITRON ANNIHILATION RADIATION IN ALUMINUM |
| 通讯作者 | 王蕴玉 |
| 中文摘要 | 用Ge(Li)探测器测量正电子在两种不同来源的铝样品中的湮没辐射,以~181Hf的482keVγ,峰做为基准,重复测定湮没峰与基准峰的相对位置,精密度达到±6eV。结果表明,在两种铝样品中的电子静止质量在10eV水平上是一致的。 |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/215638]  |
| 专题 | 高能物理研究所_院士 高能物理研究所_粒子天体物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王蕴玉,张天保,唐孝威. 正电子在铝中湮没γ射线能量的精密测量[J]. 物理学报,1982(7):945-947. |
| APA | 王蕴玉,张天保,&唐孝威.(1982).正电子在铝中湮没γ射线能量的精密测量.物理学报(7),945-947. |
| MLA | 王蕴玉,et al."正电子在铝中湮没γ射线能量的精密测量".物理学报 .7(1982):945-947. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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