Electro-optical sampling non-synchronous delay scanning measurement of electron beam bunch length at BFEL
文献类型：期刊论文
| 作者 | Sun DR(孙大睿) ; Xu JQ(徐金强); Chen SY(陈森玉)
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| 刊名 | 中国物理C
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| 出版日期 | 2010 |
| 期号 | 2页码:227-230 |
| 关键词 | electro-optical sampling measurement of electron beam bunch length non-synchronous delay scanning technique |
| 通讯作者 | 孙大睿 |
| 英文摘要 | The Electro-optical sampling delay scanning technique can be used for electron beam bunch length measurement.A novel non-synchronous delay scanning technique based on the electro-optical sampling measurements is presented.Based on Beijing Free Electron Laser(BFEL),the electron beam bunch length was ... |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/215691]  |
| 专题 | 高能物理研究所_院士 高能物理研究所_多学科研究中心 中国科学院高能物理研究所_所办公室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Sun DR,Xu JQ,Chen SY. Electro-optical sampling non-synchronous delay scanning measurement of electron beam bunch length at BFEL[J]. 中国物理C,2010(2):227-230. |
| APA | 孙大睿,徐金强,&陈森玉.(2010).Electro-optical sampling non-synchronous delay scanning measurement of electron beam bunch length at BFEL.中国物理C(2),227-230. |
| MLA | 孙大睿,et al."Electro-optical sampling non-synchronous delay scanning measurement of electron beam bunch length at BFEL".中国物理C .2(2010):227-230. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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