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同步辐射X荧光分析中的逃逸峰的测量和计算

文献类型:期刊论文

作者康士秀; 孙霞; 姚琨; 吴自勤; 黄宇营; 巨新; 冼鼎昌
刊名高能物理与核物理
出版日期2001
期号V.25 SUPP页码:39-43
关键词同步辐射X射线荧光Si(Li)探测器 逃逸峰
其他题名MEASMREMENT AND CALCULATION OF FSCAPE PESK IN SR-XRF ANALYSIS
中文摘要si(Li)探测器引起的同步辐射x射线荧光(SR-XRF)谱中的迅逸峰,严重干扰利用XRF谱进行的定性和定量分析.对实验中的逃逸峰进行了鉴别.测定了14个样品的从K Ka到As Ka12个元素的标识谱的逃逸峰的强度和峰位.比较了逃逸峰与最近主峰能量差的实验值和标准值,一般误差小于10%.用简化的x射线激发的si Ka分布出射模型,计算元素逃逸峰强和其主峰强的比值,发现随原子序数增加,实验和理论比值都从约1%下降到0.1%左右.
公开日期2016-02-26
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/215748]  
专题高能物理研究所_院士
推荐引用方式
GB/T 7714
康士秀,孙霞,姚琨,等. 同步辐射X荧光分析中的逃逸峰的测量和计算[J]. 高能物理与核物理,2001(V.25 SUPP):39-43.
APA 康士秀.,孙霞.,姚琨.,吴自勤.,黄宇营.,...&冼鼎昌.(2001).同步辐射X荧光分析中的逃逸峰的测量和计算.高能物理与核物理(V.25 SUPP),39-43.
MLA 康士秀,et al."同步辐射X荧光分析中的逃逸峰的测量和计算".高能物理与核物理 .V.25 SUPP(2001):39-43.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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