用高纯锗γ谱仪测量和分析连续γ射线能谱的方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 唐孝威 ; 张天保; 李耀清
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| 刊名 | 核电子学与探测技术
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| 出版日期 | 1988 |
| 期号 | 3页码:129-134 |
| 关键词 | 连续γ射线谱 解谱 迭代 正电子偶素 |
| 其他题名 | A METHOD OF MEASURING AND ANALYZING THE CONTINUOUS GAMMA RAY SPECTRA BY HIGH PURITY GE SPECTROMETER |
| 通讯作者 | 唐孝威 |
| 中文摘要 | 本文介绍了一种用高纯锗γ谱仪测量和分析连续γ射线能谱的方法。 |
| 公开日期 | 2016-02-26 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221036]  |
| 专题 | 高能物理研究所_院士 高能物理研究所_粒子天体物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 唐孝威,张天保,李耀清. 用高纯锗γ谱仪测量和分析连续γ射线能谱的方法[J]. 核电子学与探测技术,1988(3):129-134. |
| APA | 唐孝威,张天保,&李耀清.(1988).用高纯锗γ谱仪测量和分析连续γ射线能谱的方法.核电子学与探测技术(3),129-134. |
| MLA | 唐孝威,et al."用高纯锗γ谱仪测量和分析连续γ射线能谱的方法".核电子学与探测技术 .3(1988):129-134. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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