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用高纯锗γ谱仪测量和分析连续γ射线能谱的方法

文献类型:期刊论文

作者唐孝威; 张天保; 李耀清
刊名核电子学与探测技术
出版日期1988
期号3页码:129-134
关键词连续γ射线谱 解谱 迭代 正电子偶素
其他题名A METHOD OF MEASURING AND ANALYZING THE CONTINUOUS GAMMA RAY SPECTRA BY HIGH PURITY GE SPECTROMETER
通讯作者唐孝威
中文摘要本文介绍了一种用高纯锗γ谱仪测量和分析连续γ射线能谱的方法。
公开日期2016-02-26
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221036]  
专题高能物理研究所_院士
高能物理研究所_粒子天体物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
唐孝威,张天保,李耀清. 用高纯锗γ谱仪测量和分析连续γ射线能谱的方法[J]. 核电子学与探测技术,1988(3):129-134.
APA 唐孝威,张天保,&李耀清.(1988).用高纯锗γ谱仪测量和分析连续γ射线能谱的方法.核电子学与探测技术(3),129-134.
MLA 唐孝威,et al."用高纯锗γ谱仪测量和分析连续γ射线能谱的方法".核电子学与探测技术 .3(1988):129-134.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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