高速信号眼图测试中夹具影响的校准
文献类型：期刊论文
| 作者 | 孙建伟 ; 张胜利 ; 王幼林 ; 谢亮 ; 祝宁华 |
| 刊名 | 电子学报
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| 出版日期 | 2004 |
| 卷号 | 32期号:9页码:1563-1565 |
| 中文摘要 | 为了在器件的高速信号眼图测试中去除夹具的影响,本文首次提出了一种利用时域和频域测量相结合,通过快速傅立叶变换和反变换,对眼图测试校准的方法,并进行了实验验证.实验发现校准后眼图的张开高度、Q因子、上升时间、下降时间、峰峰抖动等参数改变明显,并且校准后的眼图与直接测试结果符合得很好. |
| 英文摘要 | 为了在器件的高速信号眼图测试中去除夹具的影响,本文首次提出了一种利用时域和频域测量相结合,通过快速傅立叶变换和反变换,对眼图测试校准的方法,并进行了实验验证.实验发现校准后眼图的张开高度、Q因子、上升时间、下降时间、峰峰抖动等参数改变明显,并且校准后的眼图与直接测试结果符合得很好.; 于2010-11-23批量导入; zhangdi于2010-11-23 13:05:56导入数据到SEMI-IR的IR; Made available in DSpace on 2010-11-23T05:05:56Z (GMT). No. of bitstreams: 1 4682.pdf: 216352 bytes, checksum: aff91040ae647d54ea7a8e503357492a (MD5) Previous issue date: 2004; 国家"973"项目,国家杰出青年基金; 中国科学院半导体研究所 |
| 学科主题 | 光电子学 |
| 收录类别 | CSCD |
| 资助信息 | 国家"973"项目,国家杰出青年基金 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-23 ; 2011-04-29 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17331]  |
| 专题 | 半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙建伟,张胜利,王幼林,等. 高速信号眼图测试中夹具影响的校准[J]. 电子学报,2004,32(9):1563-1565. |
| APA | 孙建伟,张胜利,王幼林,谢亮,&祝宁华.(2004).高速信号眼图测试中夹具影响的校准.电子学报,32(9),1563-1565. |
| MLA | 孙建伟,et al."高速信号眼图测试中夹具影响的校准".电子学报 32.9(2004):1563-1565. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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