Inhibitation of Si-Ge interdiffusion in Ge-on-insulator structures formed by rapid melt growth
文献类型:期刊论文
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作者 | J.J.Wen; Z. Liu; T.W. Zhou; C.L. Xue; Y.H. Zuo; C.B. Li; Q.M. Wang; B.W. Cheng |
刊名 | thin solid films
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出版日期 | 2015 ; 2015 |
卷号 | 586页码:54-57 |
学科主题 | 光电子学 ; 光电子学 |
收录类别 | SCI |
语种 | 英语 ; 英语 |
公开日期 | 2016-03-22 ; 2016-03-22 |
源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/26646] ![]() |
专题 | 半导体研究所_光电子研究发展中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | J.J.Wen,Z. Liu,T.W. Zhou,et al. Inhibitation of Si-Ge interdiffusion in Ge-on-insulator structures formed by rapid melt growth, Inhibitation of Si-Ge interdiffusion in Ge-on-insulator structures formed by rapid melt growth[J]. thin solid films, THIN SOLID FILMS,2015, 2015,586, 586:54-57, 54-57. |
APA | J.J.Wen.,Z. Liu.,T.W. Zhou.,C.L. Xue.,Y.H. Zuo.,...&B.W. Cheng.(2015).Inhibitation of Si-Ge interdiffusion in Ge-on-insulator structures formed by rapid melt growth.thin solid films,586,54-57. |
MLA | J.J.Wen,et al."Inhibitation of Si-Ge interdiffusion in Ge-on-insulator structures formed by rapid melt growth".thin solid films 586(2015):54-57. |
入库方式: OAI收割
来源:半导体研究所
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