MSIBD金刚石颗粒的电子显微镜研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 姚湲 ; 谬梅勇 ; 王占国 ; 李述汤 |
| 刊名 | 电子显微学报
 |
| 出版日期 | 2002 |
| 卷号 | 21期号:5页码:607-608 |
| 中文摘要 | 金刚石在很多领域有着广泛的用途，因而金刚石的生长技术历来受到重视。在众多的生长技术中，质量选择粒子束（MSIBD）是一个引人注目的生长技术。但是这一方法能否得到金刚石，尚未有明确的结论。我们利用高分辩电子显微镜结合电子能量损失谱，观察了用这一方法制备的样品，以期为研究金刚石的生长机理提供更多的线索。 |
| 学科主题 | 半导体材料 |
| 收录类别 | CSCD |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-23 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18059]  |
| 专题 | 半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 姚湲,谬梅勇,王占国,等. MSIBD金刚石颗粒的电子显微镜研究[J]. 电子显微学报,2002,21(5):607-608. |
| APA | 姚湲,谬梅勇,王占国,&李述汤.(2002).MSIBD金刚石颗粒的电子显微镜研究.电子显微学报,21(5),607-608. |
| MLA | 姚湲,et al."MSIBD金刚石颗粒的电子显微镜研究".电子显微学报 21.5(2002):607-608. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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