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SIN~+GaAs结构中的Franz-Keldysh振荡的傅里叶变换研究

文献类型:期刊论文

作者金鹏
刊名物理学报
出版日期2000
卷号49期号:9页码:1821
中文摘要利用傅里叶变换(FT)方法,对Franz-Keldysh振荡(FKO)的理论线性作了详细的数值模拟,并用光调制反射谱(PR)测量了一组本征层(I层)厚度不同的表面-本征层n-型重掺杂层(SIN~+)结构的GaAs样品的FKO.PR谱的FT分析表明,一部分样品的FT谱,包括其实部、虚部和模,与理论线性符合得比较好,由此求出轻空空(LH)和重空穴(HH)的约化质量平方根之比μ_1~(1/2)/(μ_h)~(1/2)对不同样品在0.805-0.816之间,同时也可以求出样品中的内建电场强度F_1,和调制光引起的调制电场δF=F_1-F_2。有一些样品的FT谱实部和虚部与理论线性差别很大,用FT的模仍可以给出有用的信息。
学科主题半导体材料
收录类别CSCD
资助信息国家自然科学基金
语种中文
公开日期2010-11-23
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18255]  
专题半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
金鹏. SIN~+GaAs结构中的Franz-Keldysh振荡的傅里叶变换研究[J]. 物理学报,2000,49(9):1821.
APA 金鹏.(2000).SIN~+GaAs结构中的Franz-Keldysh振荡的傅里叶变换研究.物理学报,49(9),1821.
MLA 金鹏."SIN~+GaAs结构中的Franz-Keldysh振荡的傅里叶变换研究".物理学报 49.9(2000):1821.

入库方式: OAI收割

来源:半导体研究所

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