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用X射线双晶衍射方法测定GaMnAs组分

文献类型:期刊论文

作者陈诺夫 ; 修慧欣 ; 杨君玲 ; 吴金良 ; 钟兴儒 ; 林兰英
刊名科学通报
出版日期2001
卷号2035期号:0
英文摘要于2010-11-23批量导入; zhangdi于2010-11-23 13:09:07导入数据到SEMI-IR的IR; Made available in DSpace on 2010-11-23T05:09:07Z (GMT). No. of bitstreams: 1 5193.pdf: 290650 bytes, checksum: 0bfae950793b5c50ac06685cec02e53c (MD5) Previous issue date: 2001-24; 中科院半导体所
学科主题半导体材料
收录类别CSCD
语种中文
公开日期2010-11-23 ; 2011-04-29
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18291]  
专题半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
陈诺夫,修慧欣,杨君玲,等. 用X射线双晶衍射方法测定GaMnAs组分[J]. 科学通报,2001,2035(0).
APA 陈诺夫,修慧欣,杨君玲,吴金良,钟兴儒,&林兰英.(2001).用X射线双晶衍射方法测定GaMnAs组分.科学通报,2035(0).
MLA 陈诺夫,et al."用X射线双晶衍射方法测定GaMnAs组分".科学通报 2035.0(2001).

入库方式: OAI收割

来源:半导体研究所

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