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InAs/GaAs低维结构中载流子快速俘获过程的研究

文献类型:期刊论文

作者李晴 ; 徐仲英 ; 葛惟昆
刊名红外与毫米波学报
出版日期2000
卷号19期号:5页码:343
中文摘要用简并激发-探测技术研究了77K温度下InAs/GaAs量子点中载流子快速俘获的弛豫过程。在瞬态反射谱测量中,除观察到与GaAs有关的驰豫过程外(时间常数约为1ps),还观察到一个时间常数为几个至20ps的反射率上升过程。提出了一个物理模型,表明上述上升过程与光致载流子被InAs层快速俘获过程有关,并由此得到载流子的俘获时间,俘获时间随载流子浓度增加而减小。
学科主题半导体物理
收录类别CSCD
资助信息国家自然科学基金,国家973计划
语种中文
公开日期2010-11-23
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18355]  
专题半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
李晴,徐仲英,葛惟昆. InAs/GaAs低维结构中载流子快速俘获过程的研究[J]. 红外与毫米波学报,2000,19(5):343.
APA 李晴,徐仲英,&葛惟昆.(2000).InAs/GaAs低维结构中载流子快速俘获过程的研究.红外与毫米波学报,19(5),343.
MLA 李晴,et al."InAs/GaAs低维结构中载流子快速俘获过程的研究".红外与毫米波学报 19.5(2000):343.

入库方式: OAI收割

来源:半导体研究所

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