EBIC测定GaPLPE样片的少子扩散长度
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李永良 ; 杨锡震 ; 周燕 ; 李承基 ; 李蕴言 |
| 刊名 | 电子显微学报
 |
| 出版日期 | 2000 |
| 卷号 | 19期号:4页码:581 |
| 学科主题 | 半导体材料 |
| 收录类别 | CSCD |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-23 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18545]  |
| 专题 | 半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李永良,杨锡震,周燕,等. EBIC测定GaPLPE样片的少子扩散长度[J]. 电子显微学报,2000,19(4):581. |
| APA | 李永良,杨锡震,周燕,李承基,&李蕴言.(2000).EBIC测定GaPLPE样片的少子扩散长度.电子显微学报,19(4),581. |
| MLA | 李永良,et al."EBIC测定GaPLPE样片的少子扩散长度".电子显微学报 19.4(2000):581. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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