中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
聚合物发光器件中输运特性的模拟分析

文献类型:期刊论文

作者熊绍珍 ; 赵颖 ; 吴春亚 ; 郝云 ; 王跃 ; 陈有素 ; 杨恢东 ; 周祯华 ; 俞钢
刊名半导体学报
出版日期2001
卷号22期号:9页码:1176
中文摘要对聚合物发光二极管I-V特性的测量发现,被测器件内存在着类似于某些无机器件中的负阻现象和“迟滞回线”状场致漂移的伏安特性。模拟分析表明,一种反向势垒的存在及其击穿,应是引起负阻现象的原因。缺陷态的存在及其电荷填充的变化,是导致I-V特性随偏压扫描方向变化的主要原因。而低场下的接触性能决定着发光二极管载流子的输运性质
英文摘要对聚合物发光二极管I-V特性的测量发现,被测器件内存在着类似于某些无机器件中的负阻现象和“迟滞回线”状场致漂移的伏安特性。模拟分析表明,一种反向势垒的存在及其击穿,应是引起负阻现象的原因。缺陷态的存在及其电荷填充的变化,是导致I-V特性随偏压扫描方向变化的主要原因。而低场下的接触性能决定着发光二极管载流子的输运性质; 于2010-11-23批量导入; zhangdi于2010-11-23 13:10:21导入数据到SEMI-IR的IR; Made available in DSpace on 2010-11-23T05:10:21Z (GMT). No. of bitstreams: 1 5363.pdf: 232094 bytes, checksum: ef5ec2c911f7a374b2bff0c75dbfad4e (MD5) Previous issue date: 2001; 国家自然科学基金; 南开大学光电子所;中科院半导体所;UNIAX Corporation
学科主题光电子学
收录类别CSCD
资助信息国家自然科学基金
语种中文
公开日期2010-11-23 ; 2011-04-29
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18631]  
专题半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
熊绍珍,赵颖,吴春亚,等. 聚合物发光器件中输运特性的模拟分析[J]. 半导体学报,2001,22(9):1176.
APA 熊绍珍.,赵颖.,吴春亚.,郝云.,王跃.,...&俞钢.(2001).聚合物发光器件中输运特性的模拟分析.半导体学报,22(9),1176.
MLA 熊绍珍,et al."聚合物发光器件中输运特性的模拟分析".半导体学报 22.9(2001):1176.

入库方式: OAI收割

来源:半导体研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。