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高精度单向模拟开关的设计及其基于CMOS工艺的电路实现

文献类型:期刊论文

作者兀革 ; 石寅
刊名半导体学报
出版日期2000
卷号21期号:12页码:1214
中文摘要提出并设计了一种基于CMOS工艺实现的高速高精度的单向隔离模拟开关,该开关用在高速两步法A/D转换器中使电路结构大为简化。通过对开关特性的理论分析与电路模拟,证明了这种模拟开关具有高速可控性,传输信号的精度优于先前研究的双极单向隔离模拟开关。
英文摘要提出并设计了一种基于CMOS工艺实现的高速高精度的单向隔离模拟开关,该开关用在高速两步法A/D转换器中使电路结构大为简化。通过对开关特性的理论分析与电路模拟,证明了这种模拟开关具有高速可控性,传输信号的精度优于先前研究的双极单向隔离模拟开关。; 于2010-11-23批量导入; zhangdi于2010-11-23 13:10:37导入数据到SEMI-IR的IR; Made available in DSpace on 2010-11-23T05:10:37Z (GMT). No. of bitstreams: 1 5415.pdf: 341582 bytes, checksum: 3da90119689527ed8548dade0a67d85d (MD5) Previous issue date: 2000; 中科院半导体所
学科主题微电子学
收录类别CSCD
语种中文
公开日期2010-11-23 ; 2011-04-29
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18735]  
专题半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
兀革,石寅. 高精度单向模拟开关的设计及其基于CMOS工艺的电路实现[J]. 半导体学报,2000,21(12):1214.
APA 兀革,&石寅.(2000).高精度单向模拟开关的设计及其基于CMOS工艺的电路实现.半导体学报,21(12),1214.
MLA 兀革,et al."高精度单向模拟开关的设计及其基于CMOS工艺的电路实现".半导体学报 21.12(2000):1214.

入库方式: OAI收割

来源:半导体研究所

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