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掺杂nc-Si∶H膜的电导特性

文献类型:期刊论文

作者彭英才 ; 刘明 ; 何宇亮 ; 李月霞
刊名半导体学报
出版日期2000
卷号21期号:3页码:308
英文摘要于2010-11-23批量导入; zhangdi于2010-11-23 13:10:49导入数据到SEMI-IR的IR; Made available in DSpace on 2010-11-23T05:10:49Z (GMT). No. of bitstreams: 1 5453.pdf: 307859 bytes, checksum: 985cca5966a66632321c30b272116fe3 (MD5) Previous issue date: 2000; 河北大学电子信息工程学院;中科院微电子中心;北京航空航天大学材料物理与化学研究中心;中科院半导体所
学科主题半导体材料
收录类别CSCD
语种中文
公开日期2010-11-23 ; 2011-04-29
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18811]  
专题半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
彭英才,刘明,何宇亮,等. 掺杂nc-Si∶H膜的电导特性[J]. 半导体学报,2000,21(3):308.
APA 彭英才,刘明,何宇亮,&李月霞.(2000).掺杂nc-Si∶H膜的电导特性.半导体学报,21(3),308.
MLA 彭英才,et al."掺杂nc-Si∶H膜的电导特性".半导体学报 21.3(2000):308.

入库方式: OAI收割

来源:半导体研究所

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