中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
Photocurrent Measurem entof Si_(1-x)Ge_x/Si Multiple Quantum Wells With Ion Im plantationand Therm al Annealing

文献类型:期刊论文

作者Cheng BW(成步文); Chen YH(陈涌海)
刊名半导体学报
出版日期2000
卷号21期号:1页码:18
英文摘要于2010-11-23批量导入; zhangdi于2010-11-23 13:10:55导入数据到semi-ir的ir; made available in dspace on 2010-11-23t05:10:55z (gmt). no. of bitstreams: 1 5470.pdf: 283860 bytes, checksum: 6250c4056e970e824a29927b56747695 (md5) previous issue date: 2000; 国家自然科学基金,国家863计划; 中科院半导体所
学科主题光电子学
收录类别CSCD
资助信息国家自然科学基金,国家863计划
语种英语
公开日期2010-11-23 ; 2011-04-29
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18845]  
专题半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
Cheng BW,Chen YH. Photocurrent Measurem entof Si_(1-x)Ge_x/Si Multiple Quantum Wells With Ion Im plantationand Therm al Annealing[J]. 半导体学报,2000,21(1):18.
APA 成步文,&陈涌海.(2000).Photocurrent Measurem entof Si_(1-x)Ge_x/Si Multiple Quantum Wells With Ion Im plantationand Therm al Annealing.半导体学报,21(1),18.
MLA 成步文,et al."Photocurrent Measurem entof Si_(1-x)Ge_x/Si Multiple Quantum Wells With Ion Im plantationand Therm al Annealing".半导体学报 21.1(2000):18.

入库方式: OAI收割

来源:半导体研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。