InAs量子点的原子力显微镜测试结果分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 徐波
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| 刊名 | 半导体学报
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| 出版日期 | 1999 |
| 卷号 | 662期号:0 |
| 学科主题 | 半导体材料 |
| 收录类别 | CSCD |
| 资助信息 | 国家863计划,国家自然科学基金 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-23 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18901]  |
| 专题 | 半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐波. InAs量子点的原子力显微镜测试结果分析[J]. 半导体学报,1999,662(0). |
| APA | 徐波.(1999).InAs量子点的原子力显微镜测试结果分析.半导体学报,662(0). |
| MLA | 徐波."InAs量子点的原子力显微镜测试结果分析".半导体学报 662.0(1999). |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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