Suructural investigation of InGaAs/InP quantum wire array using triple-axis X-ray diffractometry
文献类型：期刊论文
| 作者 | Wang W(王圩) ; Jiang DS(江德生); Ma WQ(马文全); Wang YT(王玉田); Zhu HL(朱洪亮)
|
| 刊名 | 半导体学报
 |
| 出版日期 | 1998 |
| 卷号 | 19期号:1页码:61 |
| 学科主题 | 光电子学 |
| 收录类别 | CSCD |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-23 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/19213]  |
| 专题 | 半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Wang W,Jiang DS,Ma WQ,et al. Suructural investigation of InGaAs/InP quantum wire array using triple-axis X-ray diffractometry[J]. 半导体学报,1998,19(1):61. |
| APA | 王圩,江德生,马文全,王玉田,&朱洪亮.(1998).Suructural investigation of InGaAs/InP quantum wire array using triple-axis X-ray diffractometry.半导体学报,19(1),61. |
| MLA | 王圩,et al."Suructural investigation of InGaAs/InP quantum wire array using triple-axis X-ray diffractometry".半导体学报 19.1(1998):61. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。