用推广的平面波展开展法检验平面内极化的电子子带跃迁
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张满红 ; 朱邦芬 ; 黄绮 ; 王文新 ; 周均铭 |
| 刊名 | 物理学报
 |
| 出版日期 | 1997 |
| 卷号 | 46期号:2页码:393 |
| 中文摘要 | 把平面波展开包络函数的方法推广到求解8带的哈密顿量,使它同时包括Г~c_1和Г~v_(15).在这种方法里,可以考虑反演不对称性、能带的非抛物性、有效质量不连续性以及 自旋-轨道耦合等效应的影响.作为应用,计算了两个量子阱结构的子带和光跃迁概率.实验上在这两个结构中观察到了平面内极化的电子子带跃迁.计算表明这种跃迁的概率很小.实验上观察到的平面内极化的电子子带吸收可能有其他的机制. |
| 学科主题 | 半导体物理 |
| 收录类别 | CSCD |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-23 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/19317]  |
| 专题 | 半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张满红,朱邦芬,黄绮,等. 用推广的平面波展开展法检验平面内极化的电子子带跃迁[J]. 物理学报,1997,46(2):393. |
| APA | 张满红,朱邦芬,黄绮,王文新,&周均铭.(1997).用推广的平面波展开展法检验平面内极化的电子子带跃迁.物理学报,46(2),393. |
| MLA | 张满红,et al."用推广的平面波展开展法检验平面内极化的电子子带跃迁".物理学报 46.2(1997):393. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。