一个检测半导体激光器质量的有效方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 石家纬 ; 金恩顺 ; 李红岩 ; 李正庭 ; 郭树旭 ; 高鼎三 ; 余金中 ; 郭良 |
| 刊名 | 半导体学报
 |
| 出版日期 | 1996 |
| 卷号 | 17期号:8页码:595 |
| 中文摘要 | 对一百支PBC结构的InGaAsP/InP激光器的检测表明,通过变温的电导数及热阻测试给出的参数及参数随温度的变化可对半导体激光器有效地进行质量评价和可靠性筛选. |
| 学科主题 | 半导体器件 |
| 收录类别 | CSCD |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-23 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/19635]  |
| 专题 | 半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 石家纬,金恩顺,李红岩,等. 一个检测半导体激光器质量的有效方法[J]. 半导体学报,1996,17(8):595. |
| APA | 石家纬.,金恩顺.,李红岩.,李正庭.,郭树旭.,...&郭良.(1996).一个检测半导体激光器质量的有效方法.半导体学报,17(8),595. |
| MLA | 石家纬,et al."一个检测半导体激光器质量的有效方法".半导体学报 17.8(1996):595. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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