As+注入Si1-xGex中应就驰豫的双晶X射线衍射研究
文献类型:期刊论文
作者 | 邹吕凡 ; 王占国 ; 孙殿照 ; 何沙 ; 范缇文 ; 张靖巍 |
刊名 | 半导体学报
![]() |
出版日期 | 1996 |
卷号 | 17期号:12页码:946 |
学科主题 | 半导体材料 |
收录类别 | CSCD |
资助信息 | 国家自然科学基金 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2010-11-23 |
源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/19655] ![]() |
专题 | 半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 邹吕凡,王占国,孙殿照,等. As+注入Si1-xGex中应就驰豫的双晶X射线衍射研究[J]. 半导体学报,1996,17(12):946. |
APA | 邹吕凡,王占国,孙殿照,何沙,范缇文,&张靖巍.(1996).As+注入Si1-xGex中应就驰豫的双晶X射线衍射研究.半导体学报,17(12),946. |
MLA | 邹吕凡,et al."As+注入Si1-xGex中应就驰豫的双晶X射线衍射研究".半导体学报 17.12(1996):946. |
入库方式: OAI收割
来源:半导体研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。