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低温漂高电源抑制的CMOS片上电流源

文献类型:期刊论文

作者张耀辉
刊名半导体技术
出版日期2009
期号21
关键词带隙基准 温度系数 电源抑制 电流源 驱动电路
通讯作者朱从义
合作状况其它
中文摘要设计了一种用于驱动电路和模数转换器的片上电流源,该结构利用带隙基准的方法产生了一个与温度无关的参考电平,同时为了满足高电源抑制的要求,电流源中采用了运算放大器的负反馈环路来抑制电源到输出的增益,从而使输出电平与电源电压无关,然后通过电阻把电压转化为电流。该电路在0.35μm、3.3V的工艺下实现,芯片面积为0.03mm2。仿真和测试结果表明,该电流源的温度系数为8.7×10-6/℃,在2.6~4V的电源电压下均能正常工作,达到了系统要求。
收录类别其他
语种中文
公开日期2010-01-15
源URL[http://58.210.77.100/handle/332007/112]  
专题苏州纳米技术与纳米仿生研究所_系统集成与IC设计部_张耀辉团队
推荐引用方式
GB/T 7714
张耀辉. 低温漂高电源抑制的CMOS片上电流源[J]. 半导体技术,2009(21).
APA 张耀辉.(2009).低温漂高电源抑制的CMOS片上电流源.半导体技术(21).
MLA 张耀辉."低温漂高电源抑制的CMOS片上电流源".半导体技术 .21(2009).

入库方式: OAI收割

来源:苏州纳米技术与纳米仿生研究所

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