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不同介质膜的InP MIS结构界面陷阱的研究

文献类型:期刊论文

作者卢励吾 ; 周洁 ; 瞿伟 ; 张盛廉
刊名半导体学报
出版日期1992
卷号13期号:4页码:225
英文摘要于2010-11-23批量导入; zhangdi于2010-11-23 13:15:36导入数据到SEMI-IR的IR; Made available in DSpace on 2010-11-23T05:15:36Z (GMT). No. of bitstreams: 1 6223.pdf: 199280 bytes, checksum: 1e62d2b83bcb81d0bfab22f7e137b49e (MD5) Previous issue date: 1992; 中科院半导体所
学科主题半导体材料
收录类别CSCD
语种中文
公开日期2010-11-23 ; 2011-04-29
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/20231]  
专题半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
卢励吾,周洁,瞿伟,等. 不同介质膜的InP MIS结构界面陷阱的研究[J]. 半导体学报,1992,13(4):225.
APA 卢励吾,周洁,瞿伟,&张盛廉.(1992).不同介质膜的InP MIS结构界面陷阱的研究.半导体学报,13(4),225.
MLA 卢励吾,et al."不同介质膜的InP MIS结构界面陷阱的研究".半导体学报 13.4(1992):225.

入库方式: OAI收割

来源:半导体研究所

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