不同介质膜的InP MIS结构界面陷阱的研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 卢励吾 ; 周洁 ; 瞿伟 ; 张盛廉 |
| 刊名 | 半导体学报
 |
| 出版日期 | 1992 |
| 卷号 | 13期号:4页码:225 |
| 英文摘要 | 于2010-11-23批量导入; zhangdi于2010-11-23 13:15:36导入数据到SEMI-IR的IR; Made available in DSpace on 2010-11-23T05:15:36Z (GMT). No. of bitstreams: 1 6223.pdf: 199280 bytes, checksum: 1e62d2b83bcb81d0bfab22f7e137b49e (MD5) Previous issue date: 1992; 中科院半导体所 |
| 学科主题 | 半导体材料 |
| 收录类别 | CSCD |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-23 ; 2011-04-29 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/20231]  |
| 专题 | 半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 卢励吾,周洁,瞿伟,等. 不同介质膜的InP MIS结构界面陷阱的研究[J]. 半导体学报,1992,13(4):225. |
| APA | 卢励吾,周洁,瞿伟,&张盛廉.(1992).不同介质膜的InP MIS结构界面陷阱的研究.半导体学报,13(4),225. |
| MLA | 卢励吾,et al."不同介质膜的InP MIS结构界面陷阱的研究".半导体学报 13.4(1992):225. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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