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等电子杂质Sb对InP中缺陷的影响

文献类型:期刊论文

作者叶式中 ; 杨保华 ; 徐岭
刊名半导体学报
出版日期1990
卷号11期号:4页码:253
英文摘要于2010-11-23批量导入; zhangdi于2010-11-23 13:16:26导入数据到SEMI-IR的IR; Made available in DSpace on 2010-11-23T05:16:26Z (GMT). No. of bitstreams: 1 6324.pdf: 145048 bytes, checksum: f3d60a8d87acb6a965d88a69b77ca9bb (MD5) Previous issue date: 1990; 国家自然科学基金; 中科院半导体所
学科主题半导体材料
收录类别CSCD
资助信息国家自然科学基金
语种中文
公开日期2010-11-23 ; 2011-04-29
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/20421]  
专题半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
叶式中,杨保华,徐岭. 等电子杂质Sb对InP中缺陷的影响[J]. 半导体学报,1990,11(4):253.
APA 叶式中,杨保华,&徐岭.(1990).等电子杂质Sb对InP中缺陷的影响.半导体学报,11(4),253.
MLA 叶式中,et al."等电子杂质Sb对InP中缺陷的影响".半导体学报 11.4(1990):253.

入库方式: OAI收割

来源:半导体研究所

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