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MBE[(AlxGa(1-x)As)l(GaAs)m]n/GaAs(001)超晶格结构参数的X射线双晶衍射测量研究

文献类型:期刊论文

作者姜力 ; 吴苍生 ; 王玉田 ; 高维宾
刊名半导体学报
出版日期1989
卷号10期号:2页码:86
学科主题半导体物理
收录类别CSCD
语种中文
公开日期2010-11-23
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/20555]  
专题半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
姜力,吴苍生,王玉田,等. MBE[(AlxGa(1-x)As)l(GaAs)m]n/GaAs(001)超晶格结构参数的X射线双晶衍射测量研究[J]. 半导体学报,1989,10(2):86.
APA 姜力,吴苍生,王玉田,&高维宾.(1989).MBE[(AlxGa(1-x)As)l(GaAs)m]n/GaAs(001)超晶格结构参数的X射线双晶衍射测量研究.半导体学报,10(2),86.
MLA 姜力,et al."MBE[(AlxGa(1-x)As)l(GaAs)m]n/GaAs(001)超晶格结构参数的X射线双晶衍射测量研究".半导体学报 10.2(1989):86.

入库方式: OAI收割

来源:半导体研究所

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