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相位解包裹算法中基于调制度的新质量图

文献类型:期刊论文

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作者朱勇建 ; 刘立人 ; 栾竹 ; 鲁伟 ; 阳庆国 ; 李大汕
刊名中国激光
出版日期2006
卷号33期号:5页码:667
关键词测量 质量图 移相法 解包裹相位 调制度
ISSN号0258-7025
其他题名New quality map based on modulation for phase unwrapping algorithm
中文摘要在移相法测量光学波面或物体形貌过程中。相位解包裹是条纹自动分析中的关键技术,而质量图对解包裹相位算法起着至关重要的作用。用计算机模拟干涉图获得相位导数偏差质量图,指出其在标识相位数据质量方面的不足,并根据调制度结合相位梯度构造出新的质量图(称之为调制度相位梯度偏差质量图)来弥补此缺陷。再以新质量图数据为权值,采用加权最小二乘解包裹算法验证新质量图的可靠性。最后通过实验数据,比较新质量图和相位导数偏差质量图在解包裹相位算法中的作用,得到新质量图的解相结果均方根(RMS)值为2.652rad,而相位导数偏差质
分类号TN911.74
收录类别ei
语种中文
公开日期2009-09-18
源URL[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/1938]  
专题上海光学精密机械研究所_信息光学开放实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
朱勇建,刘立人,栾竹,等. 相位解包裹算法中基于调制度的新质量图, New quality map based on modulation for phase unwrapping algorithm[J]. 中国激光,2006,33(5):667, 672.
APA 朱勇建,刘立人,栾竹,鲁伟,阳庆国,&李大汕.(2006).相位解包裹算法中基于调制度的新质量图.中国激光,33(5),667.
MLA 朱勇建,et al."相位解包裹算法中基于调制度的新质量图".中国激光 33.5(2006):667.

入库方式: OAI收割

来源:上海光学精密机械研究所

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