恒星自转测量标准系统(Ⅱ)
文献类型：期刊论文
| 作者 | 潘开科; 谭徽松 |
| 刊名 | 天文学报
 |
| 出版日期 | 1993-06 |
| 卷号 | 34期号:2页码:159-164 |
| 关键词 | 谱线 临边昏暗 恒星自转 |
| ISSN号 | 0001-5245 |
| 产权排序 | 第一完成单位 |
| 中文摘要 | 本文讨论了临边昏暗效应对恒星自转测量的影响,结果表明:该效应在V_αsini的测量中起重要作用,在临边昏暗系数为1.0的极端情况下,它对自转速度测量值的影响可以达到17%。作为文(Ⅰ)的后续,本文对slettebak新、老系统间的系统差提出了新的解释:该系统差的产生可主要归因于:(1)老系统对临边昏暗作了不适当的二次重复修正;(2)由于历史的原因,老系统选用的临边昏暗系数偏大。 |
| 学科主题 | 天文学 |
| 收录类别 | CSCD |
| 语种 | 中文 |
| CSCD记录号 | CSCD:216166 |
| 源URL | [http://ir.ynao.ac.cn/handle/114a53/1235]  |
| 专题 | 云南天文台_其他 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 潘开科,谭徽松. 恒星自转测量标准系统(Ⅱ)[J]. 天文学报,1993,34(2):159-164. |
| APA | 潘开科,&谭徽松.(1993).恒星自转测量标准系统(Ⅱ).天文学报,34(2),159-164. |
| MLA | 潘开科,et al."恒星自转测量标准系统(Ⅱ)".天文学报 34.2(1993):159-164. |
入库方式： OAI收割
来源：云南天文台
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