一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法
文献类型：专利
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| 作者 | 李留成; 多丽萍; 金玉奇; 唐书凯; 李国富; 王元虎; 于海军; 汪健; 王增强; 曹靖 |
| 发表日期 | 2015-11-01 |
| 专利国别 | CN |
| 专利号 | CN201310684078.5 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 中文摘要 | 本发明涉及一种利用低分辨率近红外荧光谱测量HF高振动态粒子数分布的技术，它基于自发辐射荧光光谱技术，是一种测量HF分子高振动激发态能级粒子数分布的新方法。本发明主要应用于化学激光测试诊断技术领域，是为了简化在HF化学激光系统中测量振动激发态粒子数分布情况的过程而产生的，本发明只需要将HF基频自发辐射荧光光谱的几条P支谱线强度进行简单的加和即可，具有简单方便、精度高、非侵入性等特点。利用本发明，可以实现HF化学激光器中高振动激发态各个能级粒子数分布的快速测量。 |
| 是否PCT专利 | 否 |
| 学科主题 | 物理化学 |
| 公开日期 | 2015-06-17 |
| 授权日期 | 2015-11-01 |
| 申请日期 | 2013-12-13 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN201310684078.5 |
| 源URL | [http://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/144911]  |
| 专题 | 大连化学物理研究所_中国科学院大连化学物理研究所 |
| 作者单位 | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李留成,多丽萍,金玉奇,等. 一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法, 一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法, 一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法, 一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法. CN201310684078.5. 2015-11-01. |
入库方式： OAI收割
来源：大连化学物理研究所
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